Aktuelles
RFID & Wireless IoT tomorrow 2020 DIGITAL!

Live-Stream Konferenz vom 23. November bis 3. Dezember
Virtuelle Ausstellung vom 23. November bis 18. Dezember

CISC ist Aussteller und Referent auf der #WIOTtomorrow20

Benedikt Weigand, International Sales Manager bei CISC Semiconductor referiert im Automotive Forum am 28. Oktober!

CISC Semiconductor, österreichischer Anbieter von RFID- und NFC-Testlösungen, wird erneut auf der RFID & Wireless IoT tomorrow vertreten sein! 2020 zeigt das internationale Unternehmen seine Testsysteme am Stand in der Ausstellung und referiert zudem im Automotive Forum.

Event-Info
09:00 - 17:00
27. & 28. Oktober 2020
Darmstadt

Josef Preishuber-Pflügl, CTO und Business Manager RFID+NFC bei CISC Semiconductor, schätzt die Teilnahme an der RFID & Wireless IoT tomorrow LIVE:

„Eine digitale Version des Events ist zwar eine gute Idee, allerdings kann sie das Live-Event nicht vollständig ersetzen. Der LIVE-Aspekt der Veranstaltung gestattet authentische und vertrauensvolle Kundengespräche mit gleichzeitigen Hands-On Erlebnissen an den Geräten. Die persönliche Kommunikation und Beratung unserer Kunden sind viel intensiver 'live' als am Telefon. Dieser wichtige Aspekt kann nicht digital reproduziert werden.“

RFID- & NFC-Testlösungen am Stand Nummer 34!

Am 27. und 28. Oktober zeigt CISC Semiconductor die Produktion- und Labor-Testlösungen am Stand in der Ausstellung.

Produkte die zum Thema 'Produktions-Testlösungen' gehören: NFC Xplorer Inline, RAIN Xplorer Inline und der Reel2Reel Tester. Diese drei Produkte garantieren die beste Qualitätssicherung von Massenproduktionen von RAIN RFID- und NFC-Tags und Etiketten. So können Etiketten- und Lesegerätehersteller sowie Systemintegratoren die Qualität und Funktionalität der Etiketten überprüfen. Der Fertigungsschwerpunkt: die Überprüfung der RF Schnittstelle und die Problemerkennung in Produktionsprozessen.

Zu den Labor-Testlösungen bietet CISC Semiconductor die Xplorer Produktserien von RAIN RFID- und-NFC Testsystemen. Das System deckt alle Produktentwicklungsphasen ab, von der F&E bis hin zu Pre-Conformance- und Performance-Tests. Der RAIN RFID Xplorer und der NFC Xplorer stellen optimale Qualität, Zuverlässigkeit und Interoperabilität von RAIN-RFID- und NFC-Hardware sicher. Der Schwerpunkt im Labor: Konformitätstests, Konditionstests und automatische Software-Tests.

Josef Preishuber-Pflügl unterstreicht: „Basierend auf unseren vorhanden Testgeräten ist nun der nächste Schritt das Testen von RFID-Readern in F&E und auch in der Produktion zu vertiefen. Mit diesem Schritt nach vorne unterstützen wir die Reader-Hersteller die Produktqualität, speziell in Bezug auf RAIN RFID spezifische Produkteigenschaften, noch wesentlich zu verbessern.“

CISC Semiconductor im Automotive Forum

Am 28. Oktober referiert Benedikt Weigand im Automotive Forum zum Thema „Designing best suitable RFID tags to meet both minimum and maximum read range limits for automotive applications like load carriers and road tolling.“

Nehmen Sie am Forum teil und erfahren Sie mehr über die RFID-Tag-Designs mit optimalen Lesereichweiten.

Über 60 Vorträge in acht Foren

Die Teilnehmerakkreditierung hat bereits begonnen! Der Ticket Shop ist jetzt geöffnet!

Weitere Informationen zum Konferenzprogramm? Hier!

Treffen Sie CISC Semiconductor auf der RFID & Wireless IoT tomorrow 2020 am 27. und 28. Oktober in Darmstadt!


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