Aktuelles
Europas größte Veranstaltung für RFID & Wireless-IoT-Technologien
vom 20. bis zum 21.Oktober 2021 in der Messehalle in Wiesbaden.

CISC ist Aussteller und Referent auf der #WIOTtomorrow20 DIGITAL

Benedikt Weigand, International Sales Manager bei CISC Semiconductor referiert im Automotive Forum am 1. Dezember!

CISC Semiconductor, österreichischer Anbieter von RFID- und NFC-Testlösungen, wird erneut auf der RFID & Wireless IoT tomorrow vertreten sein! 2020 zeigt das internationale Unternehmen seine Testsysteme am Stand in der Ausstellung und referiert zudem im Automotive Forum.

Event-Info
https://www.rfid-wiot-tomorrow.com/
Live stream Conference from Nov 23rd to Dec 3rd
Virtual Exhibition from Nov 23rd to Dec 18th

RFID- & NFC-Testlösungen

Vom 23. November bis zum 18. Dezember zeigt CISC Semiconductor die Produktion- und Labor-Testlösungen am Stand in der Ausstellung.

Produkte die zum Thema 'Produktions-Testlösungen' gehören: NFC Xplorer Inline, RAIN Xplorer Inline und der Reel2Reel Tester. Diese drei Produkte garantieren die beste Qualitätssicherung von Massenproduktionen von RAIN RFID- und NFC-Tags und Etiketten. So können Etiketten- und Lesegerätehersteller sowie Systemintegratoren die Qualität und Funktionalität der Etiketten überprüfen. Der Fertigungsschwerpunkt: die Überprüfung der RF Schnittstelle und die Problemerkennung in Produktionsprozessen.

Zu den Labor-Testlösungen bietet CISC Semiconductor die Xplorer Produktserien von RAIN RFID- und-NFC Testsystemen. Das System deckt alle Produktentwicklungsphasen ab, von der F&E bis hin zu Pre-Conformance- und Performance-Tests. Der RAIN RFID Xplorer und der NFC Xplorer stellen optimale Qualität, Zuverlässigkeit und Interoperabilität von RAIN-RFID- und NFC-Hardware sicher. Der Schwerpunkt im Labor: Konformitätstests, Konditionstests und automatische Software-Tests.

Josef Preishuber-Pflügl unterstreicht: „Basierend auf unseren vorhanden Testgeräten ist nun der nächste Schritt das Testen von RFID-Readern in F&E und auch in der Produktion zu vertiefen. Mit diesem Schritt nach vorne unterstützen wir die Reader-Hersteller die Produktqualität, speziell in Bezug auf RAIN RFID spezifische Produkteigenschaften, noch wesentlich zu verbessern.“

CISC Semiconductor im Automotive Forum

Am 1. Dezember referiert Benedikt Weigand im Automotive Forum zum Thema „Designing best suitable RFID tags to meet both minimum and maximum read range limits for automotive applications like load carriers and road tolling.“

Nehmen Sie am Forum teil und erfahren Sie mehr über die RFID-Tag-Designs mit optimalen Lesereichweiten.

Über 60 Vorträge in acht Foren

Weitere Informationen zum Konferenzprogramm? Hier!

Treffen Sie CISC Semiconductor auf der RFID & Wireless IoT tomorrow 2020 DIGITAL vom 23. November bis zum 18. Dezember!


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